半导体硅晶圆表面瑕疵多视角视觉检查治具
授权
摘要

本实用新型公开一种半导体硅晶圆表面瑕疵多视角视觉检查治具,包括有机架、活动架、摆动架、承托装置、第一驱动机构以及第二驱动机构;该承托装置包括有球轴以及托盘;通过将摆动架的下端与活动架的上端铰接,并配合第一驱动机构带动活动架水平横向及纵向活动,从而通过活动架的水平横向或者纵向活动来控制摆动架万向摆动,球轴通过球头可万向摆动地安装在机架上,而且球轴的下端可转动地安装在摆动架上,从而使得球轴可以随着摆动架的摆动而相应摆动;以及,通过于摆动架上设置有第二驱动机构,从而利用第二驱动机构带动球轴转动;通过第一驱动机构和第二驱动机构来让硅晶圆朝不同方向摆动,这样就可以从多个角度对硅晶圆进行全面的检查。

基本信息
专利标题 :
半导体硅晶圆表面瑕疵多视角视觉检查治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921628798.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-27
授权号 :
CN210982257U
授权日 :
2020-07-10
发明人 :
林火旺刘立清廖文民
申请人 :
东莞市庆颖智能自动化科技有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市塘厦镇清湖头社区高丽五路15号B栋一楼
代理机构 :
厦门市新华专利商标代理有限公司
代理人 :
吴成开
优先权 :
CN201921628798.9
主分类号 :
G01N21/95
IPC分类号 :
G01N21/95  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2020-07-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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