一种可调整的不良IC产品检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了IC芯片封装领域内的一种可调整的不良IC产品检测装置，包括放置在输送机构上的水平料带，料带上依次间隔设置有若干基板，每个基板上均设有IC芯片，不良IC芯片的基板上竖直贯穿开设有标记孔，所述料带的下侧设置有可发出红外光的检测光感器，检测光感器安装在位置调节机构上，检测光感器的光线发射端轴线与料带相垂直，检测光感器发射出的红外光向上穿过标记孔，所述料带的上方设置有机台信号接受器，机台信号接受器可对应接收穿过标记孔的红外光。本实用新型能够提高不良IC产品的识别效率，实现自动化筛选不良IC产品，识别精度高，避免不良IC产品流出。
基本信息
专利标题 ：
一种可调整的不良IC产品检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921639010.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-29
授权号 ：
CN210775257U
授权日 ：
2020-06-16
发明人 ：
张德青刘明群涂可嘉魏世全
申请人 ：
江苏汇成光电有限公司
申请人地址 ：
江苏省扬州市邗江区高新技术产业开发区金荣路19号
代理机构 ：
南京苏科专利代理有限责任公司
代理人 ：
王峰
优先权 ：
CN201921639010.4
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-06-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
