一种声发射信号处理装置及光学元件损伤检测系统

授权

摘要

本申请提供一种声发射信号处理装置及光学元件损伤检测系统，通过将传感器设置到待测光学元件上，并将获取到的待测光学元件所产生的声发射信号传输给声发射信号处理装置；声发射信号处理装置进行信号放大、滤波、转换为数字信号、提取出声发射信号的特征参数后，将特征参数输送给计算机系统，以供计算机系统基于特征参数确定出待测光学元件的损伤类型和损伤程度。相较于相关技术而言，声发射信号检测具有更高的准确性，检测结果可以直接由计算机系统确定出来，不需要用户进行人工观察，检测效率更高。

基本信息

专利标题：

一种声发射信号处理装置及光学元件损伤检测系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921684282.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-09

授权号：

CN211179665U

授权日：

2020-08-04

发明人：

马文静张军伟徐振源向勇陈良明胡东霞袁晓东袁强周丽丹房奇李可欣

申请人：

中国工程物理研究院激光聚变研究中心

申请人地址：

四川省绵阳市游仙区绵山路64号

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

张萌

优先权：

CN201921684282.6

主分类号：

G01N29/44

IPC分类号：

G01N29/44 G01N29/14 G01N29/04 G01N29/24