一种对称式大量程的光纤光栅位移传感器
授权
摘要

本实用新型提供了一种对称式大量程的光纤光栅位移传感器,包括具有安装内腔的传感器外壳、位移测量传导杆、梁固定支座和位于所述梁固定支座两侧并对称设置的光纤光栅位移传感部分,所述梁固定支座、光纤光栅位移传感部分均位于所述传感器外壳的安装内腔之内,单侧的所述光纤光栅位移传感部分主要由相互验证并用于测量结果校验的等位移弹簧变形光纤光栅测量部分和等强度梁弯曲光纤光栅测量部分组成,所述位移测量传导杆的测量位移量转换为所测物理量,所述所测物理量为等位移弹簧变形物理量和等强度梁弯曲变形物理量。本实用新型的有益效果:可以实现大量程的位移测量功能,测量结果更为准确和真实。

基本信息
专利标题 :
一种对称式大量程的光纤光栅位移传感器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921684738.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-10
授权号 :
CN210513022U
授权日 :
2020-05-12
发明人 :
肖克龙乔石陆钊周文龙肖颖柯志伟杨谊华黄道国韩斌张桂珍王晓杰
申请人 :
深圳市基础工程有限公司;深圳市港科岩土工程技术咨询有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市福田区竹子林紫竹六道3号联泰大厦18楼
代理机构 :
深圳市添源知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
罗志伟
优先权 :
CN201921684738.9
主分类号 :
G01B11/02
IPC分类号 :
G01B11/02  G01B11/16  G01L1/24  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-05-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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