密封圈和密封泄露检测设备
授权
摘要
本实用新型密封圈和密封泄露检测设备，包括本体段和设于本体段的下端的第一变形段，第一变形段用于抵触待测产品并与待测产品之间形成密封面；沿背离本体段的方向，第一变形段的内径增大，外径增大，厚度变小。通过在本体段的下端设置内径增大、外径增大、厚度变小的第一变形段，使得密封圈无需像现有的O型密封圈一样，通过施加外力抵紧待测产品以增加密封性，而是可以利用密封泄露检测设备自身产生的负压，使得第一变形段变形，第一变形段的内壁从下至上逐渐变形至与待测产品表面贴合以达到密封状态，由于无需将整个密封圈下压，使得待测产品不会因受到挤压力而产生印痕。
基本信息
专利标题 ：
密封圈和密封泄露检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921693043.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-10
授权号 ：
CN210834018U
授权日 ：
2020-06-23
发明人 ：
赵华钟声宇杨志辉王小龙车全罚李雷生高云峰
申请人 ：
大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳市大族电机科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区深南大道9988号
代理机构 ：
深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李杭
优先权 ：
CN201921693043.7
主分类号 ：
G01M3/02
IPC分类号 ：
G01M3/02 F16J15/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M3/00
结构部件的流体密封性的测试
G01M3/02
应用流体或真空
法律状态
2020-06-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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