射频基带一体化终端自动测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了射频基带一体化终端自动测试系统，涉及射频基带一体化终端测试技术领域，包括电源及控制单元、噪声源、中频源、上变频器、下变频器、程控衰减器、衰减器、频谱仪、第一单刀双掷开关SPDT1、第二单刀双掷开关SPDT2、第三单刀双掷开关SPDT3、第四单刀双掷开关SPDT4和第五单刀双掷开关SPDT5；所述自动测试系统设置有中频信号发射接口、中频信号接收接口、高频信号发射接口和高频信号接收接口。本实用新型通过第一单刀双掷开关SPDT1、第三单刀双掷开关SPDT3、第四单刀双掷开关SPDT4等单刀双掷开关实现前向链路和反向链路的自动切换，避免手动换线，极大的方便自动化测试进行。
基本信息
专利标题 ：
射频基带一体化终端自动测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921699556.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-12
授权号 ：
CN209642677U
授权日 ：
2019-11-15
发明人 ：
王晋杰陈小荣
申请人 ：
成都华兴汇明科技有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市自由贸易试验区成都高新区益州大道1999号9号楼17层2号、3号
代理机构 ：
成都君合集专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
贾林
优先权 ：
CN201921699556.9
主分类号 ：
H04B17/19
IPC分类号 ：
H04B17/19 H04B17/29
法律状态
2019-11-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
