测量系统、传感器解调设备及传感器
授权
摘要
本公开涉及一种测量系统，其包括传感器和传感器解调设备。传感器包括：感测部分，配置为测量待测值；信号传输件，连接感测部分和接合部分；接合部分，配置为接合到传感器解调设备，以将代表测量值的传感器信号从感测部分经由所述信号传输件发送到所述传感器解调设备。其中，所述接合部分设置有包含传感器参数信息的识别码。传感器解调设备包括：解调部件，配置为对来自传感器的所述传感器信号进行解调，以获得所述测量值；信息识别模块，配置为扫描并识别传感器的所述识别码，以获得传感器参数信息。本公开还涉及前面所述的传感器和传感器解调设备。
基本信息
专利标题 ：
测量系统、传感器解调设备及传感器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921703338.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-11
授权号 ：
CN211347176U
授权日 ：
2020-08-25
发明人 ：
黄祖炎张立喆徐宁闫宜斌
申请人 ：
北京佰为深科技发展有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区上地信息路12号1幢4层E401
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
陈钘
优先权 ：
CN201921703338.8
主分类号 ：
G01L1/24
IPC分类号 ：
G01L1/24 G01L11/02 A61B5/0215
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01L
测量力、应力、转矩、功、机械功率、机械效率或流体压力
G01L1/00
力或应力的一般计量
G01L1/24
通过测量材料受应力时其光学性质的变化，例如，应用光弹性应力分析
法律状态
2020-08-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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