孔深测量机构及孔深测量装置

授权

摘要

本实用新型公开了一种孔深测量机构及孔深测量装置，涉及孔深测量技术领域。该孔深测量机构包括基座、激光探测组件、位移测量组件以及驱动执行组件。驱动执行组件固定设置于基座且包括运动件，运动件与激光探测组件连接且带动激光探测组件沿第一方向滑动，位移测量组件包括滑动配合的定尺和动尺，定尺与基座固定连接，动尺与激光探测组件固定连接。激光探测组件包括激光发生组件和控制器，控制器与激光发生组件电连接。该孔深测量机构设计合理，操作方便，能够针对通孔和盲孔进行孔深的测量，误差小，精度高，且测量快速，适用于自动化生产线中使用，使用范围广。

基本信息

专利标题：

孔深测量机构及孔深测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921714125.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-12

授权号：

CN210922538U

授权日：

2020-07-03

发明人：

吴年汉邬豪陈领陶冶

申请人：

四川大学

申请人地址：

四川省成都市武侯区一环路南一段24号

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

郭斌莉

优先权：

CN201921714125.5

主分类号：

G01B11/22

IPC分类号：

G01B11/22