一种避免外部光线照射影响的光度计结构
授权
摘要
本实用新型提供了一种避免外部光线照射影响的光度计结构，包括主机，所述主机的背面通过对称设置的两根连杆连接有弧形反光板，连杆的一端通过第一转动组件与所述弧形反光板的内壁连接；所述主机内部水平设有主转轴，连杆的另一端分别固定在主转轴上，且所述主转轴的两端对称设有第二转动组件，所述第二转动组件包括水平对称设置的副转轴、固定在主转轴两端的第一转动齿轮，所述副转轴分别靠近主转轴的两端且分别与主转轴平行设置，且所述主转轴上分别设有第二转动齿轮，且同一侧的所述第一转动齿轮与所述第二转动齿轮相互啮合。本实用新型通过弧挡光板的作用，可将直射主机的光源发射出去，从而避免了光源直射主机对检测结果造成的误差。
基本信息
专利标题 ：
一种避免外部光线照射影响的光度计结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921724632.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-15
授权号 ：
CN210464663U
授权日 ：
2020-05-05
发明人 ：
姚勋麦亚萍尹建波朱宏林耿开仙
申请人 ：
云南华测检测认证有限公司
申请人地址 ：
云南省昆明市经济技术开发区云大西路39号新兴产业区B幢1楼104号、3楼301、302号、D幢4楼401、402号
代理机构 ：
昆明润勤同创知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
王远同
优先权 ：
CN201921724632.7
主分类号 ：
G01J3/02
IPC分类号 ：
G01J3/02 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/02
零部件
法律状态
2020-05-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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