一种毫米波辐射率多角度测量装置

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摘要

本实用新型公开了一种毫米波辐射率多角度测量装置，包括弓形滑轨和云台模块，弓形滑轨固定设置在平面底面上方，云台模块设置在弓形滑轨上自由滑动，用于实现被动毫米波多角度、多极化辐射率的测量。本实用新型通过控制云台位于滑轨的位置以及云台绕自身旋转的角度，可实现被动毫米波0°～90°的多角度、多极化辐射率连续测量，实现目标与辐射计波束对齐，入射角度精准控制，极化角度精准控制。并且本实用新型采用云台模块与弓形滑轨配套的设置，云台模块在弓形滑轨上自由滑动以减少手工操作，提高实验效率和准确性。

基本信息

专利标题：

一种毫米波辐射率多角度测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921731226.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-16

授权号：

CN211086142U

授权日：

2020-07-24

发明人：

胡飞王成斌苏金龙

申请人：

华中科技大学

申请人地址：

湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

代理机构：

华中科技大学专利中心

代理人：

曹葆青

优先权：

CN201921731226.3

主分类号：

G01N22/00

IPC分类号：

G01N22/00