一种用于测量圆形结构椭圆变形的装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于测量圆形结构椭圆变形的装置，包括穿杆（7），穿杆（7）的两端设有圆形限位装置（6），圆形限位装置之间设有若干个位移计组件（1），所述位移计组件（1）设有若干个位移计（2），位移计（2）与信号线相连，位移计组件（1）的中间设有与穿杆（7）装配的穿杆孔（12）。本实用新型为圆形结构椭圆变形测量方式提供了新思路，该测量装置为模块化安装，提高了此类测量装置布置效率和可操作性；此外本实用新型适用性强，通过简单调节即可用于不同尺寸的结构测量，满足不同测量角度的要求，可按需灵活调整测量断面布置的位置及密度。
基本信息
专利标题 ：
一种用于测量圆形结构椭圆变形的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921756096.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-18
授权号 ：
CN211552803U
授权日 ：
2020-09-22
发明人 ：
刘庭金廖强蔡良怡汤智钧
申请人 ：
华南理工大学
申请人地址 ：
广东省广州市天河区五山路381号
代理机构 ：
广州粤高专利商标代理有限公司
代理人 ：
何淑珍
优先权 ：
CN201921756096.9
主分类号 ：
G01B21/32
IPC分类号 ：
G01B21/32
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/26
••用于检测轮子的准直度
G01B21/32
用于计量固体的变形
法律状态
2020-09-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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