一种MIM双工位检测设备
授权
摘要
一种MIM双工位检测设备，包括固定架，固定架底部四角处分别设有一个支脚，固定架内右侧设有电源箱，电源箱内设有电源，固定架内左侧设有电脑主机，固定架上部前侧设有操作工作台，固定架的顶部设有大理石台面板，大理石台的顶面上方设有铝型材支架，铝型材支架内设有双Y轴移动组件和测量组件，双Y轴移动组件上设有两个背光源，每个背光源上均设有一个工装治具，每个背光源与工装治具相固定且沿双Y轴移动组件前后移动，双Y轴移动组件的上方设有用于驱动测量组件左右移动的X轴移动组件，测量组件连接在X轴移动组件上。本实用新型具有代替人工对MIM五金件进行检测测量，检测的效率高，产能高，作业品质稳定，节省人力物力人本等优点。
基本信息
专利标题 ：
一种MIM双工位检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921785250.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-23
授权号 ：
CN211785176U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
邓声志
申请人 ：
深圳市富优驰科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区沙井街道上南东路新丰泽工业厂区A区1号、3#厂房
代理机构 ：
深圳市汇信知识产权代理有限公司
代理人 ：
贾永华
优先权 ：
CN201921785250.5
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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