可拆式高频测试装置及其垂直式探针头
授权
摘要
本实用新型公开一种可拆式高频测试装置及其垂直式探针头。所述可拆式高频测试装置包括一垂直式探针头、安装于所述垂直式探针头的一信号传输件及连接所述垂直式探针头的一间距转换板。所述垂直式探针头包含一固持座,其包含一第一导板单元与一第二导板单元、设置于所述第一导板单元的一内表面的一线路板、穿设定位于所述固持座的多个导电探针及可分离地顶抵于所述线路板的一高频弹簧针。所述信号传输件连接于所述线路板,以使所述信号传输件与所述高频弹簧针通过所述线路板而彼此电性耦接。所述可拆式高频测试装置及其垂直式探针头通过结构改良,以减少高频信号于传输过程中所产生的信号损失且提供维护、量产及调整的便利性。
基本信息
专利标题 :
可拆式高频测试装置及其垂直式探针头
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921796429.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-24
授权号 :
CN211086401U
授权日 :
2020-07-24
发明人 :
李文聪谢开杰
申请人 :
中华精测科技股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾桃园市
代理机构 :
隆天知识产权代理有限公司
代理人 :
任芸芸
优先权 :
CN201921796429.0
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2020-07-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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