高压直流继电器半成品检漏设备
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

本实用新型公开了高压直流继电器半成品检漏设备,涉及检漏设备技术领域,包括固定框架、检漏箱、检漏仪,检漏箱包括箱底和箱盖,箱盖抵紧设置在箱底上;箱盖靠近箱底一侧设置有用于压紧继电器半成品的弹性压头,箱底上固定安装有密封法兰,密封法兰远离箱盖一侧设置有第一真空抽气口,第一真空抽气口与检漏仪连通,箱底上还开设有第二真空抽气口;固定框架包括底板、盖板,底板与盖板之间设置有用于定位检漏箱的导向杆,盖板上设置有压杆,所述压杆远离盖板一端与箱盖上表面抵紧。本实用新型提供了结构简单、安装及操作方便、可检测高压直流继电器半成品钎焊效果的一种高压直流继电器半成品检漏设备。

基本信息
专利标题 :
高压直流继电器半成品检漏设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921831202.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-29
授权号 :
CN210719569U
授权日 :
2020-06-09
发明人 :
叶祥
申请人 :
上海三井真空设备有限公司
申请人地址 :
上海市青浦区华新镇华强街675号
代理机构 :
上海互顺专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
余毅勤
优先权 :
CN201921831202.5
主分类号 :
G01M3/20
IPC分类号 :
G01M3/20  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M3/00
结构部件的流体密封性的测试
G01M3/02
应用流体或真空
G01M3/04
通过在漏泄点检测流体的出现
G01M3/20
应用特殊示踪物质,例如染料、荧光材料、放射性材料
法律状态
2021-10-26 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01M 3/20
变更事项 : 专利权人
变更前 : 上海三井真空设备有限公司
变更后 : 上海三井光中真空设备股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 201708 上海市青浦区华新镇华强街675号
变更后 : 201708 上海市青浦区华新镇华强街675号
2020-06-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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