激光打码缺陷识别剔除系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种激光打码缺陷识别剔除系统，包括控制板、缺陷检测模块、通信模块、步进电机控制模块、剔除机构、剔除机构异常检测装置，缺陷检测模块与控制板连接，缺陷检测模块包括光电传感器、线阵相机和图像采集卡；通信模块的输入输出端与控制板的第一输入输出端连接，步进电机控制模块的输入输出端与控制板的第二输入输出端连接等。本实用新型通过安装剔除机构异常检测装置，并将其检测信号传输至控制板，同时结合摄像装置采集图像信息，以及有线、无线结合的多样化的通信方式，实现提前预判和信号传输，提高了激光打码缺缺陷检测预警能力，保障了产线正确、高效地运行等。
基本信息
专利标题 ：
激光打码缺陷识别剔除系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921866920.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-31
授权号 ：
CN211263219U
授权日 ：
2020-08-14
发明人 ：
陈正阳
申请人 ：
湖北卓铸网络科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市江汉区香港路193号中华城A写字楼14层1401-6号
代理机构 ：
北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黄冠华
优先权 ：
CN201921866920.6
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 B07C5/34
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-08-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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