一种无损探伤检测用采样装置
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摘要

本实用新型公开了一种无损探伤检测用采样装置,包括筒体,所述筒体的内侧贯穿连接有探头本体,所述连接块的上端开设有固定槽,所述活动板的远离连接块的一端套设有固定板,所述固定板远离连接块的一侧铰链连接在伸缩杆的上端,所述连接柱的外侧螺纹连接有螺母,所述探头本体的下端通过螺栓固定连接有限位块,且探头本体的中部固定连接有固定块,所述固定块的左右两端均贯穿连接有固定杆,且固定杆的外侧套设有第一弹簧,所述筒体的上端设置有固定装置。该无损探伤检测用采样装置,在应对不同形状的工件时,方便对探头进行固定,操作起来更加的便捷,另外便于探头与工件检测表面接触,且方便样品数据的采集。

基本信息
专利标题 :
一种无损探伤检测用采样装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921869349.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-01
授权号 :
CN211148577U
授权日 :
2020-07-31
发明人 :
肖震轩
申请人 :
肖震轩
申请人地址 :
上海市金山区朱泾镇商园街65号
代理机构 :
合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
朱荣
优先权 :
CN201921869349.3
主分类号 :
G01N33/00
IPC分类号 :
G01N33/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/00
利用不包括在G01N1/00至G01N31/00组中的特殊方法来研究或分析材料
法律状态
2020-07-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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