一种痕量气体浓度检测的光谱系统

专利申请权、专利权的转移

摘要

本实用新型公开了一种痕量气体浓度检测的光谱系统，光源发出的光线经准直后，形成不同角度的平行光，入射到光学吸收腔，在物镜和场镜之间进行多次折返，被光学吸收腔内气体吸收后的光线，入射至非对称三角共路结构的分束板上，入射至分束板的光线被1:1分为两路，一路由分束板透射至第一平面反射镜，经第一平面反射镜反射至第二平面反射镜，再经过第二平面反射镜反射至分束板，最后由分束板透射至会聚镜；另一路由分束板反射至第二平面反射镜，经第二平面反射镜反射至第一平面反射镜，再由第一平面反射镜反射至分束板，最后由分束板反射至会聚镜；会聚镜将两路光线会聚，并成像至线阵探测器上。本实用新型具有低成本、高通量、高信噪比的优势。

基本信息

专利标题：

一种痕量气体浓度检测的光谱系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921885918.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-11-05

授权号：

CN211877753U

授权日：

2020-11-06

发明人：

廉玉生刘子龙郭得民

申请人：

苏州智曜科技有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市吴江区盛泽镇西二环路1188号10号楼410室

代理机构：

中国兵器工业集团公司专利中心

代理人：

刘二格

优先权：

CN201921885918.3

主分类号：

G01N21/31

IPC分类号：

G01N21/31 G01N21/03