一种恒温测试箱
授权
摘要

本实用新型公开了一种恒温测试箱,包括箱体,箱体正面一侧由上至下依次设有显示器与漏电断路器,箱体正面远离显示器与漏电断路器的另一侧由上至下依次设有两个箱体保温门,箱体靠近两个箱体保温门的一侧由上至下依次设有两个风量执行通道,箱体内由上至下依次设有两个测试腔体,两个测试腔体一侧均设有加热棒,加热棒远离测试腔体的另一侧设有离心风机,离心风机外侧设有导风蜗壳,导风蜗壳远离加热棒的另一侧与出风电机连接。本实用新型的有益效果:特别设计的加热系统、整体箱体、隔热层、测试芯片和内部载台能够在测试时保持温度不变,持续恒温,为测试半导体老化产品时提供稳定的测试环境。

基本信息
专利标题 :
一种恒温测试箱
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921897662.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-06
授权号 :
CN211086506U
授权日 :
2020-07-24
发明人 :
李裘骅符成龙
申请人 :
苏州威创达智能设备有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中经济开发区南湖路66号2幢101室、201室
代理机构 :
苏州智品专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王利斌
优先权 :
CN201921897662.8
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-07-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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