一种光学零位检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及光学检测技术领域，具体公开了一种光学零位检测装置，其中，包括：皮卡汀尼导轨、第一自准直仪、第二自准直仪、目标发生器、第一平面反射镜和第二平面反射镜；皮卡汀尼导轨用于被固定在振动冲击试验台上；第一平面反射镜和第二平面反射镜均设置在皮卡汀尼导轨的侧面，且第一平面反射镜的法线与第二平面反射镜的法线垂直；第一自准直仪与第一平面反射镜相对设置，且第一自准直仪的光轴与第一平面反射镜镜面垂直；第二自准直仪与第二平面反射镜相对设置，且第二自准直仪的光轴与第二平面反射镜镜面垂直；目标发生器与被测产品相对设置，且目标发生器的光轴与被测产品同轴设置。本实用新型提供的光学零位检测装置提高了检测效率与检测精度。
基本信息
专利标题 ：
一种光学零位检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921926727.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-08
授权号 ：
CN210953334U
授权日 ：
2020-07-07
发明人 ：
刘东锋张磊戴晓雨谢佳玫
申请人 ：
无锡市星迪仪器有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市新吴区科技产业园93号-B-2-3地块
代理机构 ：
无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
曹祖良
优先权 ：
CN201921926727.7
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01M7/02 G01M7/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-07-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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