外防护式合金分析仪
授权
摘要
本实用新型涉及合金分析仪领域，尤其是外防护式合金分析仪。该合金分析仪包括分析仪机体、手柄和探测头，手柄和探测头分别固定在分析仪机体上，所述分析仪机体的顶部滑动连接有顶部遮板，顶部遮板为弧形弯板，顶部遮板与分析仪机体之间连接有缓冲机构，分析仪机体的前部端面转动连接有用于防护探测头的遮盖板，分析仪机体上固定有用于磁吸防护探测头的磁铁，遮盖板内壁上开设有卡槽，卡槽内固定有缓冲防护层。本实用新型通过弧形的顶部遮板来隔离上部下落的污水或污物，防止分析仪机体被污物或污水碰触损坏。通过缓冲机构来减缓外物对于分析仪机体的冲力。通过遮盖板来遮蔽防护探测头。本申请提高了合金分析仪在复杂环境下的使用寿命。
基本信息
专利标题 ：
外防护式合金分析仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921941411.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-12
授权号 ：
CN210982277U
授权日 ：
2020-07-10
发明人 ：
樊瑞
申请人 ：
巴斯德仪器（苏州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区木渎镇珠江南路378号天隆大楼5681室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921941411.5
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-07-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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