一种测角装置
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摘要
本实用新型的开放式测角装置，采用内部空间大的非闭环式C形结构主框架，配合大功率驱动电机实现部件大样品织构测试和原位测量所需的大空间和大承重能力。主框架内置安装弧形导轨和滑块，通过滑块移动实现不同倾斜角度的控制。滑块上安装固定有三维台和圆盘，通过圆盘旋转实现不同自转角度的控制。主框架和三维台通过控制箱与计算机相连，通过计算机实现测角仪装置的远程控制。本实用新型的开放式测角装置的使用方法，解决了现有测角装置内部空间与承重小、仅适于常规小样品织构测试等问题，适用于部件大样品测试和原位测量等实验场景，进而有利于支持部件制造工艺控制和服役性能评估。
基本信息
专利标题 ：
一种测角装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921944727.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-12
授权号 ：
CN211061443U
授权日 ：
2020-07-21
发明人 ：
张昌盛李建王虹庞蓓蓓王云孙光爱
申请人 ：
中国工程物理研究院核物理与化学研究所
申请人地址 ：
四川省绵阳市919信箱218分箱
代理机构 ：
中国工程物理研究院专利中心
代理人 ：
翟长明
优先权 ：
CN201921944727.X
主分类号 ：
G01N23/00
IPC分类号 ：
G01N23/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
法律状态
2020-07-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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