卡弯曲测试装置
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摘要

公开了一种卡弯曲测试装置,其特征在于,包括:施压装置,其包括:底座,固定在底座一侧的立柱,由立柱中部伸出的工作台,由立柱上部伸出的动力箱,以及由动力箱下部伸出并能垂直伸缩的驱动杆;能拆卸地固定在所述驱动杆上的压力杆;以及能平稳放置在所述工作台上的卡底座,其上表面的中部具有用于稳定地放置被测卡并允许被测试卡中部向下弯曲的凹孔。

基本信息
专利标题 :
卡弯曲测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921972857.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-14
授权号 :
CN210923342U
授权日 :
2020-07-03
发明人 :
王文峰冯敬王里晴金倩王大庆
申请人 :
中国电子技术标准化研究院;北京中科佐迪克电子科技发展有限公司
申请人地址 :
北京市东城区安定门东大街1号
代理机构 :
北京名实专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
张亚非
优先权 :
CN201921972857.4
主分类号 :
G01N3/20
IPC分类号 :
G01N3/20  G01N3/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/20
施加稳定的弯曲力
法律状态
2020-07-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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