一种点压力测试台
授权
摘要
本实用新型属于压力测试设备技术领域，公开了一种用于半导体芯片的点压力测试台，包括底座仓、底座仓上端的支撑台架和支撑台架上端的夹具组件，底座仓上端与所述支撑台架通过螺丝固定连接，夹具组件滑动连接在支撑台架上端，夹具组件沿支撑台架中部对称设置，支撑台架上端固定有骨架，骨架呈门字型，骨架远离支撑台架端固定有点压力测试组件；该点压力测试台通过调节两个夹具之间的距离，便于摆放不同尺寸的半导体芯片，适用性广，同时在测试时，将压头与工件接触，可通过杠杆结构上的旋转螺母控制杠杆的水平，进而精确的控制压头与工件处于接触状态，测试精确，便于控制与读数；且支撑台架底部为锥形真空部，可有效避免应力集中，延长试验台的使用寿命。
基本信息
专利标题 ：
一种点压力测试台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921986998.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-18
授权号 ：
CN211122311U
授权日 ：
2020-07-28
发明人 ：
闫方亮杨丽霞朱勋史继岩闫建康匡小鹏于渤
申请人 ：
北京聚睿众邦科技有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区西山华府禧园56号楼1单元7层
代理机构 ：
北京一枝笔知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张庆瑞
优先权 ：
CN201921986998.1
主分类号 ：
G01N3/08
IPC分类号 ：
G01N3/08 G01N3/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/00
用机械应力测试固体材料的强度特性
G01N3/08
施加稳定的张力或压力
法律状态
2020-07-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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