磁力型接近传感器的距离参数测试器
授权
摘要
磁力型接近传感器的距离参数测试器，包括：非金属板，所述非金属板具有多段测试结构；多段所述测试结构具有相齐平的底面作为整个所述非金属板的底面；多段所述测试结构中，每一段所述测试结构的厚度顺次逐级增大，相邻两段所述测试结构之间的厚度差值相等，以形成多级等高台阶结构；多段所述测试结构中，每一段所述测试结构的厚度数值都用数字标注在所述测试结构表面；金属板，所述金属板具有平坦顶面；所述非金属板的底面固定在所述金属板的顶面上。所述距离参数测试器能够使磁力型接近传感器的距离参数测试更加高效。
基本信息
专利标题 ：
磁力型接近传感器的距离参数测试器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921988949.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-18
授权号 ：
CN210833400U
授权日 ：
2020-06-23
发明人 ：
何送平甘耀欢
申请人 ：
米博（厦门）智能科技有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市火炬高新区（翔安）产业区翔星路88号台湾科技企业育成中心E803C室
代理机构 ：
厦门仕诚联合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
吴圳添
优先权 ：
CN201921988949.1
主分类号 ：
G01B7/14
IPC分类号 ：
G01B7/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/14
用于计量相隔的物体或孔的间距或间隙
法律状态
2020-06-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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