光学检测仪器及其探测装置
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要
本实用新型公开了一种光学检测仪器及其探测装置,该探测装置,包括探测器和镜头,还包括用于调节所述探测器和所述镜头相对位置的调节部件;所述调节部件被配置为调节使所述探测器绕旋转轴相对所述镜头旋转,或者使所述镜头绕旋转轴相对所述探测器旋转;或者,所述探测装置还包括安装台,所述调节部件被配置为使所述探测器和/或所述镜头绕旋转轴相对于所述安装台旋转。该探测装置通过调节部件的设置,能够调节探测器和镜头的位置,以确保探测装置的待测对象上的探测区域位于理论位置,从而确保光学检测仪器检测的准确性。
基本信息
专利标题 :
光学检测仪器及其探测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922024612.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-21
授权号 :
CN211505171U
授权日 :
2020-09-15
发明人 :
张龙崔高增黄有为陈鲁
申请人 :
深圳中科飞测科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
陕芳芳
优先权 :
CN201922024612.5
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01 G01N21/84
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2021-02-26 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01N 21/01
变更事项 : 专利权人
变更前 : 深圳中科飞测科技有限公司
变更后 : 深圳中科飞测科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518110 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
变更后 : 518109 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
变更事项 : 专利权人
变更前 : 深圳中科飞测科技有限公司
变更后 : 深圳中科飞测科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518110 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
变更后 : 518109 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
2020-09-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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