高精度激光功率取样测量装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种高精度激光功率取样测量装置，本高精度激光功率取样测量装置包括：功率探测器，沿激光光路依次设置的第一波片、取样反射镜、第二波片；其中激光器发射激光通过所述第一波片后，所述取样反射镜适于反射一部分激光至功率探测器，且所述功率探测器适于测量该部分激光的激光功率，另一部分激光穿过所述取样反射镜并通过第二波片输出至加工设备；本实用新型能够通过取样反射镜反射一部分激光到功率探测器，并通过对该部分激光的激光功率测量可以得到激光光路中入射激光的激光功率，大部分激光能够在不停机情况下输出至加工设备，实现了实时在线进行激光功率测量的功能。
基本信息
专利标题 ：
高精度激光功率取样测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922034020.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-22
授权号 ：
CN210664764U
授权日 ：
2020-06-02
发明人 ：
牛岗毛柘
申请人 ：
江苏锐通激光科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省宿迁市宿城区勇进路宿迁激光产业园
代理机构 ：
南京中高专利代理有限公司
代理人 ：
袁兴隆
优先权 ：
CN201922034020.1
主分类号 ：
G01J1/04
IPC分类号 ：
G01J1/04 G01J1/42 G01J1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/02
零部件
G01J1/04
光学或机械部件
法律状态
2020-06-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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