分析仪及检测系统
授权
摘要
一种分析仪及检测系统。该分析仪包括第一壳体、芯片放置结构、以及至少一个检测单元。芯片放置结构设置在第一壳体中，用于放置检测芯片，检测芯片具有至少一个检测区；至少一个检测单元设置在第一壳体中，至少一个检测单元被配置为，当检测芯片被放置在芯片放置结构上时，可分别对检测芯片的一个或多个检测区进行检测。该分析仪可以在检测过程中检测出检测芯片的多个检测区中待检测液体的多种物质的含量。
基本信息
专利标题 ：
分析仪及检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922037190.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-22
授权号 ：
CN211553735U
授权日 ：
2020-09-22
发明人 ：
李鸿全
申请人 ：
京东方科技集团股份有限公司
申请人地址 ：
北京市朝阳区酒仙桥路10号
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
彭久云
优先权 ：
CN201922037190.5
主分类号 ：
G01N21/31
IPC分类号 ：
G01N21/31 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
法律状态
2020-09-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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