一种IC模组开路或短路检测装置

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摘要

本实用新型涉及一种IC模组开路或短路检测装置，检测装置的检测电路的双向开关s1a的中间端连接发光二极管L1的正极，双向开关s1a的第一空端连接P1端，双向开关s1a的第二空端连接电阻R1的第一端，电阻R1的第二端连接第一引出端；双向开关s1b的中间端连接发光二极管L1的负极，双向开关s1b的第一空端连接P1端，双向开关s1b的第二空端连接电阻R1的第一端；发光二极管L2的正极连接P2端，发光二极管L2的负极连接电阻R2的第一端，电阻R2的第二端连接第二引出端。本实用新型不仅能用于检测IC模组的封装部分是否开路，还能够用于检测IC模组的连接器部分是否短路，减少检测成本。

基本信息

专利标题：

一种IC模组开路或短路检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922074526.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-11-26

授权号：

CN211603503U

授权日：

2020-09-29

发明人：

王东

申请人：

广东晟合微电子有限公司

申请人地址：

广东省肇庆市鼎湖区桂城新城北八区肇庆新区投资发展有限公司厂房（B幢）127室

代理机构：

深圳市恒和大知识产权代理有限公司

代理人：

陆华君

优先权：

CN201922074526.5

主分类号：

G01R31/52

IPC分类号：

G01R31/52 G01R31/54 G01R31/28