一种峰值检测单元及检测系统

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摘要

本实用新型涉及一种峰值检测单元及检测系统，用于检测待测芯片中ESD二极管是否损坏。峰值检测单元包括的第一运算放大器A1的正输入端与输入端口P1电连接，第一运算放大器A1的负输入端与VSS端口P5电连接，第一运算放大器A1的输出端与引脚连接端口P3电连接；第二运算放大器A2的正输入端通过所述充放电电容C接地，该第二运算放大器A2的正输入端还与VDD端口P4电连接；第二运算放大器A2的负输入端以及第二运算放大器A2的输出端均与输出端口P2电连接，电阻R的一端与VSS端口P5电连接，电阻R另一端与输出端口P2电连接。本实用新型可以快速判断该测试引脚连接的两个二极管是否正常，有效减少检测时间。

基本信息

专利标题：

一种峰值检测单元及检测系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922074529.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-11-26

授权号：

CN211603320U

授权日：

2020-09-29

发明人：

黄金星

申请人：

广东晟合微电子有限公司

申请人地址：

广东省肇庆市鼎湖区桂城新城北八区肇庆新区投资发展有限公司厂房（B幢）127室

代理机构：

深圳市恒和大知识产权代理有限公司

代理人：

陆华君

优先权：

CN201922074529.9

主分类号：

G01R19/04

IPC分类号：

G01R19/04 G01R19/165 G01R31/26 G01R31/27