一种用于楔块测量的塞规
授权
摘要
为解决现有螺纹塞规在测量楔块时操作繁琐、无法测量光孔与内螺纹孔同轴度的技术问题，本实用新型提供一种用于楔块测量的塞规，包括依次连接的螺纹通端、光轴和螺纹止端；螺纹通端和螺纹止端轴向的螺纹长度均大于被测楔块轴向最大长度L；螺纹通端、光轴和螺纹止端的表面粗糙度值均小于等于Ra1.6；螺纹通端、螺纹止端的精度为M3‑7h；光轴的直径尺寸为长度大于被测楔块轴向最大长度L与被测楔块的螺纹内孔的长度差。
基本信息
专利标题 ：
一种用于楔块测量的塞规
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922089241.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-28
授权号 ：
CN211373473U
授权日 ：
2020-08-28
发明人 ：
邓云昌李文刚
申请人 ：
中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区锦业二路15号
代理机构 ：
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 ：
王凯敏
优先权 ：
CN201922089241.9
主分类号 ：
G01B5/252
IPC分类号 ：
G01B5/252
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/20
用于计量轮廓或曲率
G01B5/22
球径仪
G01B5/252
用于测量偏心度，即两个平行轴之间的横向偏移
法律状态
2020-08-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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