一种碟形封头无损检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种碟形封头无损检测装置。它包括水平轨道、水平轨道上安装的支架组合件和射线机托架,每组支架组合件和射线机托架均能够在水平轨道进行往复移动,每组支架组合件均包括后支架以及前支架,碟形封头的底部外侧端靠压在该组支架组合件的后支架上且底部内侧端抵住该组支架组合件的前支架上,射线机托架设置为伸缩结构,射线机托架的顶部安置射线机从而能够对碟形封头的焊接表面进行检测。采用上述的结构后,调整方便快捷,既能稳定的放置不同规格的碟形封头,又能方便的进行拍片作业,大大提高了拍片的效率,并且避免了安全隐患,其不同方位的调整结构,能够使射线发生器窗口与小r弧保持垂直,检测效果好,避免了漏检的问题。

基本信息
专利标题 :
一种碟形封头无损检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922118401.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-29
授权号 :
CN212207161U
授权日 :
2020-12-22
发明人 :
赵孟辉严伟明刘中亚高军张万美
申请人 :
江苏索普赛瑞装备制造有限公司
申请人地址 :
江苏省镇江市京口区求索路18号
代理机构 :
镇江京科专利商标代理有限公司
代理人 :
夏哲华
优先权 :
CN201922118401.8
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2020-12-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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