一种PCB通用微调测试架装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种PCB通用微调测试架装置，包括设置在底板和顶板之间的测试台和测试设备，所述测试台的下端侧壁与底板的上端侧壁固定连接，所述测试设备与顶板之间设有升降微调机构，所述测试台的侧壁上设有装置槽，所述装置槽的底壁上固定连接有抽气泵，所述测试台的侧壁中设有空腔，所述抽气泵的输入端贯穿空腔的底壁并与其相连通，所述空腔的上端内壁上等间距贯穿设有多个微孔。本实用新型不但能够在测试台上固定多种不同规格的PCB板，且方便在测试台上微调PCB板的位置，同时还能够微调测试设备的高度位置，能够更加方便地进行检测。
基本信息
专利标题 ：
一种PCB通用微调测试架装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922119528.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-02
授权号 ：
CN211206711U
授权日 ：
2020-08-07
发明人 ：
唐泽建
申请人 ：
深圳市正科宏达科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区航城街道黄田社区黄田金碧工业区21栋三层301
代理机构 ：
合肥左心专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
吴朝
优先权 ：
CN201922119528.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-08-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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