一种用于XRD测试设备的自控升温装置
授权
摘要
本实用性公开了一种用于XRD测试设备的自控升温装置，其技术方案要点是包括样品台、设置于样品台下端的自控温加热层和内嵌于自控温加热层的热电偶；所述自控温加热层包括从上至下依次设置的绝缘层、发热层、电极层和保护层，所述电极层的侧部设有第一连接件，所述热电偶的侧部设有第二连接件；所述样品台上端设有样品槽。本实用新型结构简单，操作方便,测试温度范围为室温至600℃，适用于目前常见的Bruker D8‑Advance和日本理学D/max2200VPC等型号的X射线衍射仪。
基本信息
专利标题 ：
一种用于XRD测试设备的自控升温装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922139548.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-03
授权号 ：
CN211741125U
授权日 ：
2020-10-23
发明人 ：
夏阳蔡鹏张文魁郭锐黄辉甘永平张俊梁初贺馨平
申请人 ：
浙江工业大学
申请人地址 ：
浙江省杭州市下城区潮王路18号
代理机构 ：
杭州赛科专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
冯年群
优先权 ：
CN201922139548.5
主分类号 ：
G01N23/20
IPC分类号 ：
G01N23/20 G05D23/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
法律状态
2020-10-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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