天线罩测试系统
授权
摘要
本实用新型提供一种天线罩测试系统，其包括：发射天线、接收天线、矢量网络分析仪，以及用于调节发射天线和/或接收天线的坐标和/或指向的多维度位移装置；所述发射天线和接收天线与矢量网络分析仪对应的端口连接，并且所述发射天线和接收天线在测试时位于待测天线罩沿厚度方向的两侧。通过采用多维度位移装置实现发射天线和接收天线的旋转、移动，实现收发天线位置和指向的调整，从而可以自动完成天线罩的测试工作，自动化程度高，有利于提高测试效率和测试精度。
基本信息
专利标题 ：
天线罩测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922144429.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-02
授权号 ：
CN211856750U
授权日 ：
2020-11-03
发明人 ：
卜景鹏毛记平冼育览梁有宁
申请人 ：
中山香山微波科技有限公司
申请人地址 ：
广东省中山市火炬开发区中山港大道99号金盛广场1号商业楼606房
代理机构 ：
深圳瑞天谨诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
王昌花
优先权 ：
CN201922144429.9
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-11-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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