一种新型的接地导通电阻测试仪校准装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种新型的接地导通电阻测试仪校准装置，属于计量校准领域，包括：电阻箱箱体，位于电阻箱箱体上的接地柱、第一接线柱、第二接线柱、第三接线柱、第四接线柱、第五接线柱、第六接线柱、第七接线柱、第八接线柱、第九接线柱、第十接线柱、第十一接线柱、第十二接线柱、第十三接线柱、第十四接线柱，固定在电阻箱箱体底部的绝缘板，固定于所述绝缘板上的第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻。本实用新型提供的接地导通电阻测试仪校准装置有效地解决了现有接地导通电阻测试仪检定装置电阻测量范围不够的弊端。
基本信息
专利标题 ：
一种新型的接地导通电阻测试仪校准装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922176033.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-01
授权号 ：
CN211603533U
授权日 ：
2020-09-29
发明人 ：
胡德霖胡醇胡吉华张苑杨燕萍陈斐
申请人 ：
苏州电器科学研究院股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区越溪前珠路5号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201922176033.2
主分类号 ：
G01R35/00
IPC分类号 ：
G01R35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2020-09-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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