一种痕量爆炸物探测器及其加热装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种痕量爆炸物探测器及其加热装置，所述加热装置位于所述痕量爆炸物探测器的壳体外部，包括底座、加热头、加热片和外盖，其中，所述底座位于所述痕量爆炸物探测器的壳体外部，套设在所述痕量爆炸物探测器的敏感器件入口端，所述加热头固定在所述底座上、且与所述敏感器件相连通，所述加热片固定在所述加热头与所述底座之间，所述外盖罩设在所述底座上、且与所述痕量爆炸物探测器壳体的顶盖固定连接。本实用新型的技术方案通过设计一种外置于痕量爆炸物探测器壳体的加热装置，不仅便于更换敏感器件、清洁气路以及后期维护，而且能够有效防止采样片被吸住，保证气路的通畅性，保证检测结果的准确性和可靠性。
基本信息
专利标题 ：
一种痕量爆炸物探测器及其加热装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922178673.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-09
授权号 ：
CN211318194U
授权日 ：
2020-08-21
发明人 ：
丁志强袁丁吴红彦夏征
申请人 ：
北京华泰诺安探测技术有限公司
申请人地址 ：
北京市顺义区空港融慧园20号楼2层20-2
代理机构 ：
北京名华博信知识产权代理有限公司
代理人 ：
李冬梅
优先权 ：
CN201922178673.7
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2020-08-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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