射线双壁双影椭圆成像指示装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种射线双壁双影椭圆成像指示装置,涉及无损检测的技术领域,包括:第一透视窗,连接件,指向装置,第一透视窗为圆形并且透视窗为中空结构,透视窗与外部射线机相连以使外部射线机的射线机窗口穿过第一透视窗,连接件与第一透视窗转动相连;连接件的中心部位与指向装置固定相连。通过本实用新型提供的种射线双壁双影椭圆成像指示装置可以缓解现有技术中小管径管材成像不便的技术问题,提高小管径管材的成像透像质量。
基本信息
专利标题 :
射线双壁双影椭圆成像指示装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922211544.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-11
授权号 :
CN211505279U
授权日 :
2020-09-15
发明人 :
张娴胡秉全
申请人 :
天津市天欧检测技术有限公司
申请人地址 :
天津市北辰区北辰科技园万科花园东路2号
代理机构 :
天津才智专利商标代理有限公司
代理人 :
庞学欣
优先权 :
CN201922211544.3
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2020-09-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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