嵌入式微尺寸精密检测装置
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了嵌入式微尺寸精密检测装置,包括框架,框架的底部焊接有基座,且基座两侧外壁的轴心处均开设有滑槽,基座顶部外壁一侧焊接有定位板,且基座远离定位板另一侧外壁的轴心处通过螺栓安装有贯通轴式步进电机,贯通轴式步进电机靠近定位板的一端设置有丝杠,且丝杠远离贯通轴式步进电机的另一端焊接有测量板,测量板的两侧外壁底部通过螺钉安装有激光测距仪。本实用新型光杆提升了移动块移动时的稳定性,整个过程均自动进行,大大降低了工作人员的劳动量,节省了人工成本,提升了检测效率;提高了零部件尺寸检测速度与检测精度,降低了由于工作失误而导致次品混入合格零件的概率;缓冲棉可对测量工件起到很好的防护作用。
基本信息
专利标题 :
嵌入式微尺寸精密检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922213242.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-11
授权号 :
CN211178313U
授权日 :
2020-08-04
发明人 :
胡菊芳
申请人 :
新余学院
申请人地址 :
江西省新余市高新区阳光大道2666号
代理机构 :
新余市渝星知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
廖平
优先权 :
CN201922213242.X
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2021-11-19 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20191211
授权公告日 : 20200804
终止日期 : 20201211
申请日 : 20191211
授权公告日 : 20200804
终止日期 : 20201211
2020-08-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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