软X射线磁学实验站的原位观察装置
授权
摘要

本实用新型提供一种软X射线磁学实验站的原位观察装置,其用于正面观测真空实验腔体内的样品,所述真空实验腔体为六通管道,真空实验腔体的其中一个管道与沿软X射线的传播方向延伸的通光管道相连,原位观察装置包括设置于所述真空实验腔体和所述通光管道之间的真空腔体、设于所述真空腔体内部的带孔反射镜、以及设于所述真空腔体的侧壁上的观察窗。本实用新型的软X射线磁学实验站的原位观察装置通过将中心有孔的反射镜以45度角放置在光路上,使得X射线能穿过镜孔照射样品正面,同时也能通过反射镜观察样品正面,使软X射线从正面入射到样品上的同时能够从正面观察样品。

基本信息
专利标题 :
软X射线磁学实验站的原位观察装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922217000.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-11
授权号 :
CN211528253U
授权日 :
2020-09-18
发明人 :
曹杰峰王勇朱方园邰仁忠
申请人 :
中国科学院上海应用物理研究所
申请人地址 :
上海市嘉定区嘉罗公路2019号
代理机构 :
上海智信专利代理有限公司
代理人 :
邓琪
优先权 :
CN201922217000.8
主分类号 :
G01N23/085
IPC分类号 :
G01N23/085  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/05
利用中子
G01N23/085
X射线吸收微细结构,例如扩展XAFS
法律状态
2020-09-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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