跌落测试装置

授权

摘要

本实用新型涉及跌落测试装置领域，特别涉及一种跌落测试装置，包括检测台、筒体、撞击块、负压单元以及控制单元，所述的检测台用于放置待测试物品，筒体设置在待测试物品正上方，撞击块设置在筒体内且可顺延筒体上下移动，负压单元为撞击块上方的筒体内腔提供负压，控制单元控制负压单元的启动和停止。通过设置筒体和撞击块，就可以让撞击块沿着筒体对待测试物品进行跌落测试，并且在一次跌落撞击后，能够通过负压单元将撞击块继续吸上去，这样就可以实现重复使用，并且还能避免二次跌落造成的测试结果不准确现象，本装置结构简单、成本低，使用起来非常可靠。

基本信息

专利标题：

跌落测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922218853.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-11

授权号：

CN211668737U

授权日：

2020-10-13

发明人：

陈文杰

申请人：

深圳市尼柯光学精密技术有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区西乡街道创业一路西一巷富源工业区A座2楼

代理机构：

合肥九道和专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

胡发丁

优先权：

CN201922218853.3

主分类号：

G01M7/08

IPC分类号：

G01M7/08