自旋探测器
授权
摘要

本实用新型公开了一种自旋探测器。所述自旋探测器包括至少一个探测单元,所述探测单元包括自旋发光二极管以及光电放大转换器,光电放大转换器与自旋发光二极管相匹配并至少用于捕获自旋发光二极管产生的偏振光并将捕获的偏振光形成电信号。本实用新型提供的自旋发光二极管和与其配合的光电放大转换器可作为微尺寸基本探测单元制成集成阵列,由于众多的微尺寸探测单元的使用,自旋光电子被探测的效率大大提高,从而可以在相对非常短的时间内实现高质量自旋角分辨光电子能谱的采集,显著提高电子能谱的采集效率,进而可以大大提高昂贵设备的利用率。

基本信息
专利标题 :
自旋探测器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922235015.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-13
授权号 :
CN211318270U
授权日 :
2020-08-21
发明人 :
刘威肖绍铸何少龙
申请人 :
中国科学院宁波材料技术与工程研究所
申请人地址 :
浙江省宁波市镇海区庄市大道519号
代理机构 :
南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
赵世发
优先权 :
CN201922235015.7
主分类号 :
G01N23/2273
IPC分类号 :
G01N23/2273  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/227
测量光电效应,例如,光电子发射显微镜
G01N23/2273
测量光电子光谱,例如用于化学分析的电子光谱或X射线光电子能谱
法律状态
2020-08-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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