一种超薄样品夹具
授权
摘要
本实用新型公开了一种超薄样品夹具，所述底环包括竖直部和水平部，所述竖直部为中空的环形结构，所述水平部为所述竖直部的环形结构底部向环心方向设置的沿径向具有第一宽度的环形凸沿；所述压环具有缺口；述底环竖直部内壁设有卡嵌结构或斜面结构。本实用新型夹具用于电子显微观察领域毫米级样品载体的夹持操作，可以有效防止载体在操作过程中的受力变形，可实现无损回收载体，且固定方式便捷、牢固可靠不易脱落。
基本信息
专利标题 ：
一种超薄样品夹具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922235653.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-13
授权号 ：
CN211292646U
授权日 ：
2020-08-18
发明人 ：
杨中秋杨中琴庄超
申请人 ：
上海百枢光电科技有限公司
申请人地址 ：
上海市嘉定区安亭镇墨玉路185号1层J565室
代理机构 ：
北京商专润文专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
邢若兰
优先权 ：
CN201922235653.9
主分类号 ：
G01N23/02
IPC分类号 ：
G01N23/02 G01N23/20025
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
法律状态
2020-08-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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