用于检测基坑围护结构渗漏隐患的弹性波层析成像系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于检测基坑围护结构渗漏隐患的弹性波层析成像系统，涉及基坑围护结构，包括信号收发控制设备和分别设置在所述基坑围护结构中目标检测区域两侧的两个探测孔，两个所述探测孔中，其中一个所述探测孔内设有弹性波发生器，另一个所述探测孔内设有传感器串，所述弹性波发生器和所述传感器串分别与所述信号收发控制设备连接。本实用新型的优点是：该弹性波层析成像系统借助于能量更强的弹性波发生器和多传感器接收及速度反演算法实现更大范围内的围护结构隐患检测，既可减少探测孔的数量，又能有效的压制钢筋及混凝土骨料的干扰，同时通过密集的探测线路覆盖，实现对围护结构隐患的精细检测。
基本信息
专利标题 ：
用于检测基坑围护结构渗漏隐患的弹性波层析成像系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922240669.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-14
授权号 ：
CN211368817U
授权日 ：
2020-08-28
发明人 ：
张威王水强胡绕王胜昌蔡彩君陆礼训吴锋
申请人 ：
上海勘察设计研究院（集团）有限公司
申请人地址 ：
上海市杨浦区水丰路38号
代理机构 ：
上海申蒙商标专利代理有限公司
代理人 ：
黄明凯
优先权 ：
CN201922240669.9
主分类号 ：
E02D33/00
IPC分类号 ：
E02D33/00
IPC结构图谱
E
E部——固定建筑物
E02
水利工程；基础；疏浚
E02D
基础；挖方；填方；地下或水下结构物
E02D33/00
基础或基础结构的试验
法律状态
2020-08-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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