断路器用测试结构

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摘要

断路器用测试结构。涉及断路器，尤其涉及断路器中脱扣半轴用测试结构。提供了一种结构简单，方便操作，提高工作可靠性的断路器用测试结构。包括基座和测试块，所述测试块呈长方体，所述测试块的中心设有用于放置脱扣半轴的容置孔，所述测试块的底面位于容置孔的两侧分别设有圆弧形滑孔，所述基座的顶面设有一对滑杆，所述滑杆一一对应设在滑孔内，所述测试块上设有孔组一，所述脱扣半轴上设有孔组二，所述孔组一和孔组二相对应。所述容置孔的长度等于脱扣半轴的长度。所述基座上设有容置槽，所述滑杆可拆卸连接在容置槽内。本实用新型方便加工，操作可靠。

基本信息

专利标题：

断路器用测试结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922288086.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-18

授权号：

CN211060943U

授权日：

2020-07-21

发明人：

杨卫华朱宣吉

申请人：

扬州新纪元电器有限责任公司

申请人地址：

江苏省扬州市江都区丁沟镇麻村村

代理机构：

扬州市苏为知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

葛军

优先权：

CN201922288086.3

主分类号：

G01D11/00

IPC分类号：

G01D11/00