一种电子设备贮存期试验数据采集装置
授权
摘要
本实用新型提供一种电子设备贮存期试验数据采集装置，提高了试验的效率和准确性。该装置中试验箱外测试数据接口通过数据线分别与试验样品和数据采集装置连接，用于将试验箱内进行试验的所述试验样品的测试信号发送到数据采集装置；试验箱温湿度数据接口和数据采集装置连接，用于将试验箱内的湿度、温度数据发送到数据采集装置；数据采集装置的输入端分别与所述试验箱外测试数据接口、试验箱温湿度数据接口连接，输出端与所述数据保护装置连接，用于将采集的试验数据发送数据保护装置；数据保护装置与数据采集装置连接，用于通过硬件加密的方法来存贮数据采集装置采集的试验数据。
基本信息
专利标题 ：
一种电子设备贮存期试验数据采集装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922293334.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-18
授权号 ：
CN211785841U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
蔡健平宋汝宁陈凤熹徐洪武王伟张睿伍招冲张晓军朱炜
申请人 ：
中国航天标准化研究所
申请人地址 ：
北京市丰台区小屯路89号
代理机构 ：
北京理工大学专利中心
代理人 ：
高燕燕
优先权 ：
CN201922293334.3
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01D21/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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