一种辐射剂量测量装置
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摘要

本实用新型涉及光通信技术领域,具体为一种辐射剂量测量装置。包括光源1、第一分束器2、第一波分复用器3、掺铒光纤4、第二波分复用器5、第二分束器6、第二PIN管7、驱动及采样电路8、第一PIN管9、泵浦激光器10、微处理器11、PC上位机12;掺铒光纤4放置于空间辐射环境中,其余部分位于非辐射空间。其基于掺铒光纤放大器中掺杂光纤的辐射致增益衰减效应,实时测量掺杂光纤的增益,通过增益的实时变化,从而推算出辐射剂量和剂量率的测量装置。该测量装置无需引入额外的参考光路,以测量光路自身不同时刻的功率值为参考,简化了测量装置,提高了系统测量的稳定性和可靠性,线性度好、测量动态范围大。

基本信息
专利标题 :
一种辐射剂量测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922304429.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-20
授权号 :
CN211577434U
授权日 :
2020-09-25
发明人 :
江镭郭跃金操帆刘静
申请人 :
上海传输线研究所(中国电子科技集团公司第二十三研究所)
申请人地址 :
上海市杨浦区逸仙路135号
代理机构 :
上海市嘉华律师事务所
代理人 :
黄琮
优先权 :
CN201922304429.0
主分类号 :
G01T1/02
IPC分类号 :
G01T1/02  H01S3/067  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/02
剂量计
法律状态
2020-09-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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