一种易结晶场合专用取样探头
授权
摘要
本实用新型公开了一种易结晶场合专用取样探头，包括采样管，所述采样管进气口端部外侧壁对称设置有第一滑槽、端面设置有环形凹槽，所述第一滑槽底端设置第二滑槽，所述第二滑槽一端设置卡槽、另一端一体成型对称设置第一弹簧，所述第一弹簧的另一端一体成型设置在挤压板上，所述挤压板滑动连接在第二滑槽中，所述环形凹槽底端一体成型对称设置第二弹簧，以达到提高灰尘、杂质更好的清除效果，并且对于灰尘、杂质的清理非常便捷，进而提高采样工作效率。
基本信息
专利标题 ：
一种易结晶场合专用取样探头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922348074.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-04
授权号 ：
CN212134238U
授权日 ：
2020-12-11
发明人 ：
过威克
申请人 ：
登硕自动化工程南京有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市江北新区大厂街道毕洼路128号
代理机构 ：
南京禾易知识产权代理有限公司
代理人 ：
师自春
优先权 ：
CN201922348074.5
主分类号 ：
G01N1/22
IPC分类号 ：
G01N1/22 B01D46/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样；制备测试用的样品
G01N1/02
取样装置
G01N1/22
气体的
法律状态
2020-12-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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