定位测量工装及定位测量系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种定位测量工装及定位测量系统,包括:安装台;固定支架,设于所述安装台表面;定位组件,包括转轴与固定部件,所述定位组件绕所述转轴旋转,所述转轴的一端安装于所述固定支架,所述固定部件设于所述转轴的另一端,用于固定待检测工具。本实用新型提供的定位测量工装及系统,使得待检测工具安装到定位测量工装后,通过一次装夹即可测量多个基准面的参数,省去了多次定位的步骤,提升了检验效率。
基本信息
专利标题 :
定位测量工装及定位测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922349224.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-24
授权号 :
CN211121060U
授权日 :
2020-07-28
发明人 :
李小磊槐磊周梦涛
申请人 :
苏州微创骨科医疗工具有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区方中街112号3号厂房226室
代理机构 :
广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
李鹏
优先权 :
CN201922349224.4
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00 G01B5/24
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-07-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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