一种半导体设备的故障排查装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种半导体设备的故障排查装置,包括箱体,所述箱体的内部前端固定安装有万用表,所述箱体的前端外表面位于万用表的一侧的位置固定安装有显示屏,所述箱体的前端外表面位于显示屏的下方的位置开设有传感接口,所述箱体的下端外表面固定安装有脚垫,本实用新型所达到的有益效果是:通过在箱体的内部安装万用表与温度传感器,可以直接对半导体设备中的电流通断情况以及半导体材料的温度进行检测,方便排查出半导体设备的电流故障或者由于温度导致半导体材料出现故障,而且在箱体的下端设置储物抽屉,方便检测用传感线的整理放置,使排查装置使用时更加的方便,提高故障排查装置的使用效果。
基本信息
专利标题 :
一种半导体设备的故障排查装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922351864.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-24
授权号 :
CN211603515U
授权日 :
2020-09-29
发明人 :
王迪杏蒋伟王宁张阳秦文兵王金裕苗全盛路阳王伟顾育琪
申请人 :
无锡迪渊特科技有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市新吴区菱湖大道228号天安智慧城1-805
代理机构 :
连云港联创专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
谷金颖
优先权 :
CN201922351864.9
主分类号 :
G01R31/54
IPC分类号 :
G01R31/54 G01R15/12 G01K13/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/54
测试连续性
法律状态
2020-09-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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