一种金属成分分析设备
专利权的终止
摘要

本实用新型属于金属检测技术领域且公开了一种金属成分分析设备,在底座的内部设置腔体,将盖板盖设于腔体的一侧,并且在盖板的上部设置放置孔,可以将一些金属工件放置于腔体的内部,然后光谱检测器可以对金属工件进行检测,并将检测信息发送至中央处理器,中央处理器一方面将信息显示在显示屏上另一方面通过扬声器播报出来,方便用户使用,通过在上壳体的上部设置散热孔,可以起到散热的作用,方便使用。

基本信息
专利标题 :
一种金属成分分析设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922365131.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-25
授权号 :
CN211374574U
授权日 :
2020-08-28
发明人 :
庄为
申请人 :
湖南纳微新材料科技有限公司
申请人地址 :
湖南省长沙市岳麓区岳麓街道溁左路中南大学科技园研发总部1栋179房
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201922365131.0
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  G01N33/202  H05K7/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2021-12-03 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 23/223
申请日 : 20191225
授权公告日 : 20200828
终止日期 : 20201225
2020-08-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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